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X射線三維顯微鏡（高分辨率CT），利用x射線*的穿透能力，可以在不破壞樣品的情況下，獲得高精度三維圖像，顯示樣品內(nèi)部詳盡的三維信息，并進行結構、密度的定量分析。該技術可謂當前三維成像技術中非常有效、非常可靠的手段，通過高分辨率x射線三維成像系統(tǒng)，還可以獲得樣品微觀結構的數(shù)字化模型，可用于后續(xù)相關的數(shù)值模擬等研究工作。

三維重構成像x射線顯微鏡（高分辨率CT），即Micro /Nano CT （Computed Tomography）——計算機斷層掃描，其原理與臨床CT/工業(yè)CT相同，Micro/Nano 表明其分辨率可達到微米/亞微米級別。

3D納米x射線顯微鏡ct（高分辨率ct）Skyscan2214是一款用于顯微樣品三維成像的實驗室級超高分辨率CT掃描儀,可對直徑為30cm，長度40cm樣品的內(nèi)部結構進行3D無損檢測與重建，對樣品的細節(jié)檢測能力（標稱分辨率）可達60納米。利用 X 射線無損成像的特性提供樣品內(nèi)部結構的三維圖像，并且無需對相關區(qū)域進行切割或切片。